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作者发现并制备了一种未见文献报道的新结构碳材料,其突出特征是单个层片的厚度为纳米尺寸,典型层片的单层厚度小于10nm,最薄处仅1nm,而且表面光滑细腻,因此称之为“碳纳米层片”.采用透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)研究了碳纳米层片新结构的形态结构;采用X射线能量色散谱仪(EDAX)对其进行了成分分析.结果表明,碳纳米层片是一种单层厚度为纳米尺寸的、比炭黑球状粒子更稳定的结构,在一定条件下,形成炭黑初级粒子的更小的结构单元能够发生自组装而形成更稳定的碳纳米层片新结构.