【摘 要】
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本文通过热脉冲法和光刺激放电法研究了聚酰亚胺薄膜中陷阱能级分布情形.利用热脉冲法监测样品中的空间电荷分布变化,发现样品中的电荷衰减速率随短路时间的增加而减小,通过计算电荷量随时间的变化得到了聚酰亚胺的两个陷阱能级.同时采用光刺激放电法测量到在250 nm到600 nm光波段内,聚酰亚胺也存在有两个陷阱能级(分别位于413 nm和290 nm附近),这两个陷阱能级较由监测等温电荷衰减所得到的两个陷阱
【机 构】
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同济大学先进微结构材料教育部重点实验室,上海200092 同济大学电气工程系,上海200092
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本文通过热脉冲法和光刺激放电法研究了聚酰亚胺薄膜中陷阱能级分布情形.利用热脉冲法监测样品中的空间电荷分布变化,发现样品中的电荷衰减速率随短路时间的增加而减小,通过计算电荷量随时间的变化得到了聚酰亚胺的两个陷阱能级.同时采用光刺激放电法测量到在250 nm到600 nm光波段内,聚酰亚胺也存在有两个陷阱能级(分别位于413 nm和290 nm附近),这两个陷阱能级较由监测等温电荷衰减所得到的两个陷阱能级要深.
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