采用重配置技术压缩FPGA内BRAM的测试时间

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【摘要】

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FPGA内BRAM的测试是目前测试领域研究的重点.利用FPGA本身可以部分重配置的特点,改进BIST结构可以缩短测试时间降低测试成本.全部测试只需要一次完整配置和两次重配置即可完

【作者】

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李智韬冯建华罗宏伟

【发表日期】

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2010年期

【关键词】

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FPGA测试 BIST BRAM 部分重配置

【基金项目】

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电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级科技重点实验室开放课题(ZHD200901)

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FPGA内BRAM的测试是目前测试领域研究的重点.利用FPGA本身可以部分重配置的特点,改进BIST结构可以缩短测试时间降低测试成本.全部测试只需要一次完整配置和两次重配置即可完成.测试电路采用成熟的March算法以保证测试覆盖率达到较高的水平,同时,测试电路中还加入了正确输出预计算模块,以避免故障屏蔽现象的发生.该方法已在Xilinx公司的Virtex4系列FPGA上实现.

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