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利用等温表面电位裘减测量等手段研究了聚四氟乙烯（PTFE）多孔薄膜（孔径约1～5μm，孔度约50℅）驻机体突出的电荷储存稳定性。措助于扫描电镜（SEM），调射线衍射谱及红外透射谱等微结构分析探索了形成这一电荷储存高稳定性的结构根源。此外，本文还对多孔PTFE、高密度PTFE，可熔性聚四氟乙烯（PFA）、氟化乙丙烯共聚物（FEP）及聚三氟氯乙烯（PCTFE）薄膜驻极体的电荷储存稳定性进行了比较性的研究。