【摘 要】
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随着工艺的发展,片上系统(System On a Chip,SOC)设计已经成为大规模集成电路设计中的热门领域。伴随着系统规模的扩大和复杂性的增加,设计验证已经成为SOC设计中的一个巨大
【机 构】
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中国科技大学物理系; 中国科学院计算技术研究所;
【基金项目】
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国家自然科学基金项目(编号90207002,60242001)的资助。
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随着工艺的发展,片上系统(System On a Chip,SOC)设计已经成为大规模集成电路设计中的热门领域。伴随着系统规模的扩大和复杂性的增加,设计验证已经成为SOC设计中的一个巨大的挑战。SOC不同于普通ASIC的特点之一,即为其IP可重用性。在此基础上,对于SOC 的验证主要包括对于SOC总线系统的验证和对IP核自身的验证两个部分。本文提出一种基于模拟的验证方法,通过综合使用带约束的随机测试向量产生和基于覆盖率驱动的两种验证方法的,对一款SOC的总线系统进行验证,并在付出较少工作量的情况下,得到了预期的验证效果。
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