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电子元器件耐电压老化与局部放电试验
电子元器件耐电压老化与局部放电试验
来源 :第九届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yuhuipin1
【摘 要】
:
本文针对电子设备小型化对设备安全性的影响问题,试图通过电子元器件的耐电压试验来评价电子设备的安全性.
【作 者】
:
肖虹
常炜
【机 构】
:
信息产业部电子第五研究所(广州)
【出 处】
:
第九届全国可靠性物理学术讨论会
【发表日期】
:
2001年期
【关键词】
:
电子元器件
耐电压试验
老化
电子设备
安全性
小型化
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本文针对电子设备小型化对设备安全性的影响问题,试图通过电子元器件的耐电压试验来评价电子设备的安全性.
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