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采用射频磁控溅射法在石英玻璃基片上沉积出La1-xSrxMnO3薄膜,利用X射线光电子能谱仪对薄膜成分进行了分析。利用红外热像仪测试了薄膜7.5μm～14μm波段的红外发射率,研究了薄膜发射率随温度的变化规律,结果表明其发射率随温度增加而增大,在25℃～80℃间约有0.3的变化量。在石英玻璃/Ag基片上沉积了La1-xSrxMnO3薄膜并对Ag/LSMO/Ag结构的电激励诱发阻变特性进行了研究,结果表明Ag/LSMO/Ag结构具有优异的电激励诱发电阻变化特性。