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本文以电迁移的控制方程为依据通过对该方程的离散化和ABAQUS二次开发,实现了电致应力应变的有限元计算.计算结果表明：电致Mises应力为15.4Mpa,剥离应力与切应力可达50MPa.证明电致应力是微连接可靠性评价不可忽略的因素.
微连接电致应力的有限元分析方法研究
【摘 要】
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本文以电迁移的控制方程为依据通过对该方程的离散化和ABAQUS二次开发,实现了电致应力应变的有限元计算.计算结果表明：电致Mises应力为15.4Mpa,剥离应力与切应力可达50MPa.证明电致应力是微连接可靠性评价不可忽略的因素.
【机 构】
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北京航空航天大学固体力学研究所,100191
【出 处】
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北京力学会第十九届学术年会
【发表日期】
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2013年10期
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