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在ITS 9000测试系统上开发存储器测试程序
在ITS 9000测试系统上开发存储器测试程序
来源 :第九届中国集成电路测试学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:naeauty
【摘 要】
:
ITS9000测试系统使用了SPP(Sequencer-Per-Pin) 技术和集成编程调试环境,提供了功能强大的AGP功能和调试支持,方便用户存储器测试程序的开发。该文介绍了ITS9000测试系统的APG
【作 者】
:
李英
黄川南
【机 构】
:
北京市7227信箱
【出 处】
:
第九届中国集成电路测试学术年会
【发表日期】
:
1999年5期
【关键词】
:
存储器
测试程序
算法图形发生器
测试系统
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ITS9000测试系统使用了SPP(Sequencer-Per-Pin) 技术和集成编程调试环境,提供了功能强大的AGP功能和调试支持,方便用户存储器测试程序的开发。该文介绍了ITS9000测试系统的APG工作原理以及使用APG开发存储器测试程序的方法。
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