【摘 要】
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基于含时的Landau-Devonshire理论,研究外延铁电薄膜的漏电流机制,并考虑了影响漏电流的重要因素,如畴壁、应变、相结构、退极化等.首先结合铁电薄膜的相图,计算出了铁电薄膜在不同温度、应变、电场下的漏电流,并首次提出了铁电存储器的漏电流相图概念.
【机 构】
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湘潭大学低维材料及其应用技术教育部重点实验室,湖南湘潭411105
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基于含时的Landau-Devonshire理论,研究外延铁电薄膜的漏电流机制,并考虑了影响漏电流的重要因素,如畴壁、应变、相结构、退极化等.首先结合铁电薄膜的相图,计算出了铁电薄膜在不同温度、应变、电场下的漏电流,并首次提出了铁电存储器的漏电流相图概念.
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