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本文利用JEOL 2010透射电子显微镜和Nanofactory电学性能测试样品杆，对单根银/氧化锰纳米线锂化过程实现原位反应和实时显微结构表征。
银氧化锰复合电极材料锂化反应原位研究
【摘 要】
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本文利用JEOL 2010透射电子显微镜和Nanofactory电学性能测试样品杆，对单根银/氧化锰纳米线锂化过程实现原位反应和实时显微结构表征。
【机 构】
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北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124;北京印刷学院,北京100126北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124;浙江大学材
【出 处】
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2012年全国电子显微学学术会议
【发表日期】
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2012年9期
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