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研究了掺铒硫化锌薄膜中，温度对直流场致发光发射谱半宽强度、峰值位置及激发态寿命的影响，探讨了多声子过程在这种材料EL中的重要性。实验结果表明：⒈场致发光谱线强度，在80°K—250°K间，温度上升，谱线强度增加。⒉对于激发态寿命，按照热电子直接碰撞的观点认为，能级激发态的发光强度与具有激发能的电子数有关，因而与外加电压有一定的关系。当能级处于激发态时，存在着辐射与天辐射的竟争。⒊场致发光膜中钼离子各线簇半宽度随温度上升而增宽，但其程度有所差别，且峰值位置略有位移。（韩理洁摘）