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随着集成电路中IP核复用技术的进一步发展，单芯片集成度和复杂度急剧上升，测试数据也随之变得越来越庞大，测试压缩是解决该问题的有效方法。本文提出了一种新的基于交替游程编码的无关位填充算法，采用连续无关位左邻与右邻分割填充相结合的方法，寻求编码压缩的最优化。实验表明，它有效地提高了压缩效率并降低了测试时间，且由于该算法基于交替游程编码，其片上解码逻辑十分简单。