酒钢4号高炉合理操作炉型实践

来源 :2014年全国中小高炉炼铁学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shuang9988
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本文通过对基本制度的调整确定,对高炉上下部调剂的合理性进行探索,调整上下部匹配关系,最后确定了下部送风制度和上部装料制度的匹配关系,通过细化调剂,结合上下部调剂的手段稳定上中下部气流的分布,稳定气流分布,通过布料角度、环数,形成边缘存在平台,中心有漏斗适宜矿焦比的布料制度,合理操作炉型逐步形成.对合理操作炉型进行探讨,稳定高炉生产,维护好操作炉型,保持高炉长期稳定顺行.
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通过10MeV质子辐照试验,研究了CMOS有源像素传感器(CMOS Active Pixel Sensors 简称CMOS APS)的辐射损伤效应,结合器件结构和工艺参数,深入分析了参数退化的物理机理.结果显示:随着质子注量的不断增大暗信号和暗信号非均匀性显著退化,暗信号的增大既有电离损伤效应产生大量的氧化物陷阱电荷Not和界面态Nit导致的表面暗信号,又有位移损伤效应诱发的体缺陷充当载流子产生中
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