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半导体集成电路(IC)测试技术实践
半导体集成电路(IC)测试技术实践
来源 :第一届中国微电子计量与测试技术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:aacpc
【摘 要】
:
本文介绍了半导体集成电路的基本测试技术要求,重点对军品要求的IC产品,从实践的角度说明了怎样获得按产品参数标准和实际应用进行测试的一些判定合格的方法,以确保IC在实际应用
【作 者】
:
王广武
黄晖
【机 构】
:
长沙韶光半导体有限公司,湖南,长沙501信箱,410129
【出 处】
:
第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
【发表日期】
:
2008年10期
【关键词】
:
半导体集成电路
测试技术
产品参数标准
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本文介绍了半导体集成电路的基本测试技术要求,重点对军品要求的IC产品,从实践的角度说明了怎样获得按产品参数标准和实际应用进行测试的一些判定合格的方法,以确保IC在实际应用中的质量控制。
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