【摘 要】
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随着芯片功能和性能的不断提高，众核和多核处理器的可测试性设计(DFT)也变得日益复杂．传统的可测试性设计方法将整个芯片作为一个模块，进行扫描设计和存储器内建自测试设计，难以保证众核处理器的测试质量和测试开发周期．模块化的可测试性设计方法既能实现单个模块与周围其它模块之间的独立性，又能使设计具有可扩展、高可测试性、低功耗以及易实现的特性，是解决上述问题的有效途径．本文基于Godson-T 16核处理
【机 构】
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中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,北京 100190 中国科学院研究生院,北京 100049
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随着芯片功能和性能的不断提高，众核和多核处理器的可测试性设计(DFT)也变得日益复杂．传统的可测试性设计方法将整个芯片作为一个模块，进行扫描设计和存储器内建自测试设计，难以保证众核处理器的测试质量和测试开发周期．模块化的可测试性设计方法既能实现单个模块与周围其它模块之间的独立性，又能使设计具有可扩展、高可测试性、低功耗以及易实现的特性，是解决上述问题的有效途径．本文基于Godson-T 16核处理器，提出了一种可扩展的测试访问机制(TAM)设计方法．在本文提出的方法中,测试访问机制不但具有将测试数据传输到测试模块和将测试响应数据传输到芯片外部的功能，而且通过可扩展的共享输入输出式广播结构实现了数据压缩的功能．本文还提出了一种新颖的外壳(Wrapper)结构,不仅能够实现被测模块的独立测试和增加可测试性，而且还能保留原有模块的同构性，使设计更容易实现,通过增加少量的译码逻辑即可扩展到众核处理器．
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