基于HDL故障注入的处理器可靠性评估框架与实现

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针对宇航处理器可靠性评估的需求,本文在研究分析了各种故障注入技术的基础上,给出了一种基于HDL故障注入的处理器可靠性评估框架,该框架的目标问题是SEU(单粒子翻转事件),可以采用两种方案加以实现.最后,利用基于modelSim模拟的方式对LEON3的SEU可靠性进行了测试,给出了LEON3的SEU失效率和SEU的RFA.本文提出的可靠性评估框架和实现对其他处理器的SEU可靠性评估具有一定的借鉴意义.
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