随着光纤通信技术的飞速发展,对通信的速度和质量提出了更高的要求,这就需要光检测器件具有快速的响应和很高的灵敏度。雪崩光电二极管(APD)作为一种高灵敏度、高速度的光电二极管,在电场强度的作用下,光电流的雪崩倍增近似于链式反应,在数字光纤通信中得到广泛应用。目前,雪崩二极管系统参数的生产测试主要依赖于国外的一些仪器设备,但这些仪器设备价格昂贵且需要借助其他设备辅助测量,不能广泛满足雪崩二极管生产测试的要求。面临这一难题,本文以APD雪崩二极管作为研究对象,查阅了大量相关资料,在国外数字源表设计原理的基础上对雪崩二极管系统参数的测试电路进行了设计,完成了雪崩二极管反向击穿电压和暗电流的测量。本论文的主要内容如下：1.本文从理论上分析APD雪崩二极管的工作原理、性能参数和测试条件,通过方案比较最终确定了ADL5317的设计方案；2.ADL5317芯片集成了偏压控制电路和微弱电流检测电路,根据雪崩二极管的测试条件设计了硬件电路,此硬件电路包括：ADL5317电路、电流电压转换电路、倍压电路以及MCU控制单元；3.采用单片机的AD和DA单元对硬件电路的电压电流进行采集控制,利用软件编程对采集后的数据进行处理运算,并通过液晶屏显示,最后通过调试分析了测试电路的可行性。本文实现了雪崩二极管击穿电压及暗电流的测量,在硬件设计中采用跨阻放大器方法攻克了微弱电流检测的难题,在电流电压转换电路中的参考电压采用2.5V而不是0V,这也是本文的创新点。通过调试可以得出,本文设计的测试电路具有干扰小、价格低廉、性能稳定、测量精度高的特点,达到了设计的最初目的。