本论文的目的在于对读出电路的噪声进行分析，并且采取一定的措施，使我们所设计的读出电路的噪声能满足设计要求。所采取的研究方法是先对SFD型读出电路中元件MOS管的噪声和沟道热噪声进行分析，然后针对读出电路的结构分析其产生的KTC噪声，最后分析由于工艺方面的原因产生的固定图形噪声。并且通过对读出电路的不同噪声种类的产生来源的分析来采取相对应的降噪措施。最后通过PSPICE软件仿真来计算出我所设计的SFD型读出电路的等效输入噪声，用以验证我所设计的读出电路能否满足设计要求。CMOS读出电路中的噪声严重地制约了读出电路的性能优劣，进而影响到红外焦平面阵列甚至成像系统的性能。在CMOS读出电路的外部降噪技术方面，我主要是对双采样降噪电路作了一定的研究。对SFD型读出电路和DI型读出电路分别采用了两种不同结构的双采样电路，并且用PSPICE对它们都作了仿真，其双采样电路对DI型读出电路的固定图形噪声有比较好的降噪效果。在本论文的最后对SFD读出电路的16×16试验电路芯片进行了噪声测试，测试的结果为等效输入噪声电压为8.4，大于仿真的结果（等效输入噪声电压为0.93），并简要分析了测试误差的来源。我所设计的SFD型读出电路的等效输入噪声仿真计算结果为1.04（小于2），满足设计要求。