随着科学技术的发展,集成电路产品在社会生活中的应用越来越广泛。如今,在工农业生产和社会生活的各个方面无不存在大量的集成电路产品,这些电子产品的大量存在也推动着社会的持续向前发展。其中对集成电路的测试贯穿于集成电路产业链的全过程,在这个过程中要完成集成芯片的功能测试、技术指标测试,芯片的中测和成品的测试,以及用户入库检测等一系列测试任务,以确保集成芯片的质量。由此可见,集成电路测试在整个集成电路产业链中占据着举足轻重的地位。本文介绍了一款基于ARM内核实现的高精度、低成本、速度快、易操作且具有良好可扩展性的中低档数字集成电路测试系统,并着重介绍了数字集成电路测试系统软件的总体设计和软件设计中所用到的技术。本测试系统硬件可提供最多32管脚的数字集成电路测试,测试向量深度可达2M,最快实现10M的测试频率,并可根据所测芯片的类型选择相应的测试项目。测试系统软件分为三大模块:下层ARM程序模块、USB驱动模块、上位机软件模块。其中下层ARM程序采用ADS1.2开发工具进行开发,实现各个测试板的驱动程序和ARM内核主程序;USB驱动模块借助VC6.0工具设计完成,是USB总线的接口驱动程序,实现ARM与上位机的通信;上位机模块使用C#语言在VS2008下开发完成,是用户的操作模块,供用户设置测试工程数据,而整个工程的所有数据信息通过SQL Server2000保存。采用这几种语言和开发工具进行开发,让本集成电路测试软件系统在集聚了它们各自优势的情况下,又不失兼容性。另外,让软件的各个组成模块又保持较高的独立性,几大模块可以单独拿出来与其他开发模块使用,并具有较高的可扩展性。