电路复杂度的增加使得电路测试领域面临着前所未有的挑战,更多的电路同时包含了数字和模拟两种信号。离散时间系统理论(DES—Discrete Event System)把数模混合电路中数字/模拟信号统一在同一个数学模型下,有效的覆盖目前大部分类型的电路测试问题,在一定程度上解决了数模混合电路故障诊断困难的问题。因此本文应用该理论对数模混合电路的状态和事件之间的映射关系进行理论分析和研究,寻求待测数模混合电路的最小测试集和固障特征字典。 本文的主要工作如下: ◆ 研究了在DES理论的框架内对数模混合电路进行可测试性与故障诊断研究的数学模型。 ◆ 在基于DES理论的电路测试中,一个重要的任务就是为了以较小的代价来完成测试,需要找到电路测试的最小测试集。本文提出了利用混沌搜索及混沌遗传算法来实现最小测试集的求取,并通过编程实现了该算法。同时对现有的几种求取最小测试集的算法进行了比较分析。 ◆ 将DES理论的模型应用到实际电路中,采用EDA工具Multisim2001软件进行故障仿真,实现了完整的故障仿真分析。