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氢化非晶硅(a-Si:H)薄膜是一种重要的光电功能材料。它具有光吸收率高、电阻温度系数大、可大面积低温成膜、易掺杂、基片种类不限等优点。a-Si:H薄膜在太阳能电池、电子摄像、液晶显示和光电探测器等领域有着越来越广泛的应用。本文主要研究a-Si:H薄膜的射频磁控溅射制备和a-Si:H薄膜的光学性质。本文采用射频磁控溅射的方法,在硅衬底和石英衬底上制备a-Si:H薄膜,利用红外吸收光谱对制备的薄膜进行表征。研究了射频功率、衬底温度、工作气体压强和工作气体中氢气的比例对薄膜生长的影响。发现射频功