芯片测试在集成电路生产过程中扮演着举足轻重的环节,一个优秀的测试方案可以显著缩短从设计到产品的时间。随着社会的发展,一种新型材料的磁性随机存储器成为热门的研究方向之一,它不仅兼顾上一代产品的特点而且在密度和存取速率等方面占有优势,在人工智能、汽车电子和智能穿戴等领域有较好的发展空间。So C技术的发展给我们生活带来了便利,各种智能电子设备在我们周围随处可见,这些电子设备的正常工作离不开存储器,一方面利用存储器进行系统程序的存储,另一方面对实时产生的数据进行保存。所以,So C技术的进步也使得存储器领域不断迎接新的挑战。存储器测试在集成电路设计和生产的各个环节都有体现。随着半导体工艺的不断进步,存储器在制造过程中出现的问题也随之增多,这时要求设计的测试系统能够适应各种情况。本文针对磁性随机存储器进行了测试,主要内容有:1、先论述了集成电路目前在我国的重要地位,最近几年的发展受到西方国家的阻力增大。然后介绍了国内外对于芯片测试领域的几种主要方法包括内建自测试、探针卡测试、自动化测试设备和FPGA测试等。分析了设计FPGA测试系统的可行性。2、对存储器进行分类并介绍了易失性存储器和非易失性存储器的特点,从非易失性存储器入手介绍了被测存储器的原理和内部结构。根据存储器的结构,研究了故障模型包括地址译码故障、存储阵列故障和读写逻辑故障。基于故障模型介绍了测试算法。3、测试系统的硬件组成部分。从测试过程引入测试系统的总体框架,根据框架介绍了本次系统设计所用的外围电路和FPGA最小系统。4、进行FPGA开发,结合各个模块的时序设计驱动程序。最后,将代码下载到FPGA中,完成了测试平台的搭建;并根据待测40nm工艺的4Mbit磁性随机存储器的时序完成测试平台的调试;测试结果表明,系统能够实现6种功能测试,同时满足被测芯片的需求。设计的测试系统有两个特点:一是通过使用Micro Blaze软核,使系统更加灵活。二是使用Socket板去固定被测芯片,不同型号的芯片可以配备对应的Socket板,在测试时不用更换核心板,只需更换Socket板即可;有利于增加测试系统的可扩展性。