集成电路产品存在于当今社会生活中的各方面,对其产品的测试贯穿产品设计制造的各个环节。现如今业内通常采用的测试方法为:测试向量作为产品中被测芯片引脚输入、测试人员记录被测芯片输出值、比较理论输出值来判断该芯片是否达标。由于测试向量的行数常为百兆数量级,对测试仪内存管理有着较高要求,因此采用能够存储、传递测试向量的码型文件作为输入是最为合理的测试向量输入方式。然而硬件仪器通常不能直接识别码型文件,故需将其解析为满足硬件仪器要求的可执行二进制文件,再产生相应的测试波形。现如今业内常见码型文件大都与各自的测试仪配套使用,新型集成电路测试系统的开发者很难将现有码型文件解析软件移植到项目中,使得集成电路测试系统的开发工作更加复杂。本文针对上述问题,研究了泰瑞达码型文件(后称T类码型文件)的语法结构、词法结构,并且对比了T类与STIL类码型文件的异同点,再结合解析软件的构成方式,设计并实现了适用于多种码型文件的解析软件设计。在设计过程中,根据软设计高内聚低耦合的设计原则,本论文采用分层的思想,使程序具有了较好的可读性和扩展性。本论文包含了以下主要内容:1.针对码型文件种类较多的问题,以T类码型文件为例分析了码型文件的语法构成和词法构成,总结出码型文件共有的组成结构特征和语法特征;再根据这些特征,对比不同的文法分析方法和结构,提出了一种适用于多种码型文件语法解析的架构。2.针对码型文件数据容量大的问题,通过分析T类码型文件中描述引脚信息的数据(如引脚名称、引脚运行模式、引脚的向量值),提出了一种处理大量数据的单行向量解析方法。构造了合理的存储结构与数据接口,将结构中相应的数据按照要求提取出来并根据信号发生器能识别的格式设计中间向量文件格式并储存。3.针对可能存在的跨文件操作问题,提出了多个中间向量文件合并方法,能够满足码型文件的组间操作、组间合并,使得该解析软件能够实现一组T类码型文件的解析。4.将STIL类码型文件中的数据使用与T类码型文件相同的模块进行数据处理,实现了STIL类码型文件的解析。5.在计算机上对该解析软件进行测试与验证,以确保解析软件的正确性和性能,能够满足项目需求。经过测试,本论文设计的码型语言解析软件可以实现T类码型文件预期需求的解析,如解析单个T类码型文件,解析一组T类码型文件,解析大容量T类码型文件等,也能够使用同样的方法、结构实现STIL类码型文件的解析。