软件可靠性已经成为软件产品最重要的质量特征之一。软件可靠性增长模型(SRGM)利用测试阶段得到的数据建模，对软件的可靠性和潜伏缺陷数进行估计。非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型(NHPP-SRGMs)是软件可靠性增长模型中非常重要的一类，已经成为软件可靠性工程实践中非常重要的工具。大多数的软件可靠性增长模型都有缺陷之间相互独立的假设，而实际情况并非如此，缺陷之间存在着关联关系，而且在排除缺陷时有可能引入新的缺陷，从而使软件的缺陷数增加，影响软件可靠性增长模型的预测结果。　　 针对以上问题，本文以传统的NHPP-SRGMs的研究为基础，建立了一个考虑缺陷关联的NHPP类可靠性增长模型DC-SRGM(Defect Correlation SRGM)。具体工作包括：　　 首先，分析了软件测试过程中缺陷关联的现象，依据关联关系将缺陷分为固有缺陷和二次缺陷，进一步将固有缺陷分为独立缺陷和依赖缺陷，在此基础上给出了考虑缺陷关联的缺陷排除过程。　　 其次，在缺陷分类的基础上，依据各类缺陷的不同特点，建立了模型假设，依次对各类缺陷的失效分布进行求解，进而建立了考虑缺陷关联的DC-DRGM，并给出了模型的参数估计方法和评价标准。　　 最后，针对本组织三组实际项目失效数据应用了DC-SRGM，并与传统的NHPP类模型进行了对比研究，结果表明，DC-SRGM拥有相对较好的预测有效性、假设质量和实用性。