测试技术与科学研究密切相关，在这些领域中的作用越来越大。本文对自动测试技术的作用、自动测试技术的发展历程以及我国自动测试发展的现状进行概述，并详细介绍了自行设计、开发的一套专门用于研究磁性材料薄膜磁阻抗(MI)特性的自动测试系统。 本文按照系统开发过程组织文章，包括系统分析、系统结构设计、系统详细设计和系统实施几部分，对系统开发中的每一部分进行了说明，并且重点对MI自动测试系统中的关键部件进行详细的分析。包括对测试探头部分的硬件设计；对自适应滤波和LMS算法进行的详细推导，给出了算法步骤和部分源程序；对计算机与仪器之间的通信进行了分析并给出了实现方案；对系统中的同步技术分析了其机制和实现方法。 通过对系统调试分析，该MI自动测试系统的灵敏度达到了73.48mV/Ω，它的线性度非常好，基本上能够满足了科研的需求，系统运行稳定，数据采集准确，用户界面良好。为科研工作提供了测试条件，节省了测试时间和费用，取得了一定的经济效益。