X射线荧光光谱仪在水泥及矿物外掺料成分分析中的实验技术研究

来源 :同济大学材料科学与工程学院 同济大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:king95
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本文研究了用X射线荧光光谱(XRF)仪定量分析水泥及矿物外掺料的九种氧化物含 量。 传统的成分分析方法是化学法,随着现代仪器的不断发展,通过仪器手段来分析材料的 化学组成已渐渐被采用。本文用X射线荧光光谱仪来分析材料的化学组成,和传统的化学 法相比较具有分析速度快,对环境无污染等优点。 本文分析的样品按化学成分来区分,可分成两大类。一类是以CaO、SiO2为主要成分, 其中CaO约60%,SiO2约20%的钙硅体系,如硅酸盐水泥、矿渣水泥和硅酸盐熟料等;另 一类是以SiO2、Al2O3为主要成分,其中SiO2约40~60%,Al2O3约20~30%的硅铝体系,如 粘土、粉煤灰、煤矸石和矿粉等。 这两类样品,元素含量不一样,基体不一样,本文分别采用基体匹配法和稀释法来校正 基体效应。A、B标线采用基体匹配法,即A标线用水泥和熟料标样制作标准曲线,用于分 析钙硅体系样品;B标线用粘土、高岭土等标样制作标准曲线,用于分析硅铝体系样品。而 C标线采用稀释法来降低基体效应,用上述两类标样制作标准曲线,用于同时分析上述两类 样品。 实验结果表明,基体匹配法适合分析基体基本一致的样品,对基体相差较大的样品分析 结果不准确。稀释比法分析样品范围较广,可包括几乎所有水泥和矿物外掺料样品。 文中对制样方法的选择、测试条件的选择、标准曲线的制备、基体效应的校正、方法准 确度五个方面进行了研究。实验结果表明,采用熔融法制样,稀释法校正基体效应对样品进 行分析,实验结果和化学法一致,说明用XRF法可以替代传统的湿法化学分析来进行日常 建材类无机样品的化学组成分析,并且具有快速、准确,对环境无污染等优点。 关键词:X射线荧光光谱 水泥 矿物外掺料 制样 基体效应 化学组成
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