脑膜瘤是起源于中枢神经系统外的脑膜层,一般被视为大脑的"良性"肿瘤。恶性脑膜瘤较为罕见,并且通常伴有较高的原位肿瘤复发风险及预后不良(中位生存期MST<2年)。之前基于全基因组关联分析研究(GWAS)和全外显子组测序(WES)研究已经发现了易感基因在脑膜瘤中发挥的作用,但这些研究并没有特别关注恶性脑膜瘤。本研究选取5例恶性脑膜瘤组织,应用Agilent公司的SureSelect人类全外显子组捕获技术获得全部外显子区域DNA片段,并在Illumina HiSeq2000平台进行深度测序。我们使用wANNOVAR web server进行注释和变异排序,确定了与复发突变有关的候选基因。接着再用Sanger测序法对这些被选出的突变点进行测序验证。然后我们基于5个被验证的候选基因进行设计并在Roche NimbleGen平台上定制了目标区域捕获芯片,并对4个追加的恶性脑膜瘤组织样本进行了测序。通过对外显子组测序数据的分析,我们锁定了几个仅在肿瘤中出现的高频突变基因,其中包括NF2,MN1,ARID1B,SEMA4D和MUC2。而后又在4个追加的样本中对这些基因进行测序,最后在NF2和MN1基因中发现了潜在的驱动突变点。通过上述方案,我们证实了NF2基因中的突变点可能在脑膜瘤形成过程中扮演重要角色。另外我们提出将MN1基因作为脑膜瘤转化为恶性肿瘤的一个候选基因。由于恶性脑膜瘤患者罕见、样品非常难得到,因此,本研究在样品上有很大局限。但这应该是首个应用测序技术集中研究脑膜瘤恶性亚型的课题之一。