随着DDR技术的发展,其总线速率不断上升,工作电压不断下降,使得信号完整性的问题越来越突出。传统的DDR总线分析方法存在一定的局限性,导致DDR总线的仿真分析结果与实际波形的偏差较大,使得通过仿真方法指导产品设计的意义下降。本论文从信号完整性理论入手,介绍了传输线理论、反射串扰理论、电源完整性理论。并以此为基础,系统地阐述DDR中最典型的同步开关噪声(SSN)现象的形成机理,并对DDR中最重要的时序计算方法进行了详细的阐述。针对如何提高DDR仿真精度,本文基于Power-aware SI技术系统地提出了DDR总线中晶体管、硅片电路、封装基板、PCB等模块对应的不同Power-aware SI模型构建方法,并将这些模块的模型结合在一起,构建了完整的DDR仿真系统,实现真正意义上的系统级分析方法。论文基于Power-aware SI技术在时域上同时模拟出了高精度的信号和电源波形,完成动态时序分析计算。论文提出的方法大大提高了DDR总线系统仿真分析的精度,对产品设计有很重要的实际指导意义。