基质隔离光谱技术的历史可以追溯到上个世纪40年代,在50年代成为研究化学反应的一种重要手段。并且在随后的几十年里,不同基质的使用(N2、H2、惰性气体等)隔离光谱技术被广泛地应用于研究分子之间的相互作用、反应的中间态及产物等。而固态氢基质,由于其独特的量子固体特性,受到了越来越多的关注。本论文的工作主要是:搭建了一套低温基质隔离红外吸收光谱装置,并且使用转化装置将普通氢气转化为高纯的仲氢。利用该实验系统,测量了氧化亚氮(N2O)和二氧化碳(CO2)在氢基质和氖基质中的光谱,并对其中的一些光谱现象进行了解释。以下是本论文各章节的内容安排:第一章主要介绍了作者所使用技术的历史背景、发展情况和相关的原理特性。主要介绍了本论文工作相关的三种技术:低温基质隔离技术、傅里叶变换光谱技术以及差频光谱技术。第二章详细介绍本实验室搭建的低温基质隔离红外吸收光谱测量装置,以及仲氢转化装置。并介绍了氢晶体的光谱测量,以及如何利用其光谱来获得晶体中仲氢浓度、晶体薄膜厚度等重要的实验参数。第三章介绍对N2O的基质隔离光谱研究。通过记录N2O在氖基质和氢基质中的从基频到高泛频的光谱,获得了该系统的光谱学特征,对晶体中的分子间相互作用进行了初步探讨。第四章描述了CO2不同同位素分子的氢和氖基质隔离光谱。通过对其ν3振动带的精细结构随温度的变化、对氢晶体中的正氢浓度的依赖性的实验测量和分析,对其谱带的精细结构进行了归属分析。