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随着芯片集成度的提高和系统规模的增大,测试数据和测试时间迅速增加,这直接导致了测试成本的上升,同时,传统的自动测试仪器（ATE）的存储容量、速度和带宽不能很好地满足测试的需要。这使得芯片的测试面临越来越多的挑战,而如何压缩迅猛增加的测试数据量就是挑战之一,对它的研究受到学术研究机构、集成电路设计商、电子设计自动化工具厂商和集成电路制造企业的密切关注。本文围绕SoC测试数据压缩方法展开研究。测试数据压缩有效地减少了数字电路测试时传输的数据量和测试时间,缓解了因集成度的迅速提高所带来的海量测试数据与传输带宽的矛盾。本文对测试的相关概念,及其面临的挑战进行了介绍,并对测试激励压缩方法及其在工业中的应用进行了总结。本文提出了一种称为分组频率Golomb码的测试数据压缩方法,针对测试集中游程长度分布的不均匀性,通过重新构建Golomb码的前缀码来对码字进行更有效的利用,从而达到提高测试数据压缩率的目的。实验结果表明,本方法能有效提高Golomb码的压缩率。本文针对已有各类LFSR重新播种方法存在的硬件开销大或计算复杂等问题,提出了一种基于响应数据分块相容的测试数据编码压缩方案。由于LFSR重新播种方法中编码生成的种子的长度受测试集中测试向量确定位最大数目Smax的制约,通常地,测试向量含确定位越多,越难以编码。该方案利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,将一些需要编码的确定位用无关位代替,从而降低了Smax的值,提高了编码成功率,进而降低了LFSR编码种子的度数,且不必增加额外的测试向量,最终获得了较好的测试数据压缩效果。它的硬件解压结构只需要在一个更短的LFSR的基础上添加简单的时序控制逻辑。实验结果表明,与其他压缩方法如基于部分向量切分的LFSR重新播种方法、混合码方法和FDR码方法等相比,建议方案在压缩效率和硬件开销上都有明显优势。