随着集成电路的不断发展，传统的探针测试技术已不能满足现在芯片的测试需求，因此需要一种方便、准确的测试技术来代替传统的探针测试技术。边界扫描技术正是在这样的环境下应运而生。根据边界扫描测试的技术需求，本文设计并开发出了一种能够实现对故障快速诊断与定位的系统。　　 边界扫描控制器的设计部分是系统设计的关键，该部分主要把测试信号转换为符合JTAG协议的总线信号。它的工作效率对整个测试系统的效率起着决定性的作用。因此，如何设计一个性能良好、工作效率高的边界扫描控制器成为本课题主要的研究工作。　　 本文首先从边界扫描测试的原理开始，分析了测试的故障类型、故障的判定方法以及相关的测试生成算法，提出了一种设计方案。其次，采取了模块化的设计思想，利用Verilog HDL完成了各个模块的硬件设计部分。然后，基于Testbench对整个系统的功能进行了仿真和验证，并利用内嵌逻辑分析仪ChipScope Pro工具进行了硬件调试。最后基于Visual C++6.0完成了故障分析软件的开发工作，并利用该软件对故障进行了定位和分析。　　 通过分析测试结果，可以验证该方案设计合理，符合IEEE1149.1标准，能够实现快速的故障诊和故障的定位及分析功能。