随着集成电路的发展,航空,交通,国防装备等各行个业对集成电路的需求更大,它们的电路运行速率不断提高,对集成电路芯片的时域响应也提出了更严格的要求。集成电路的时域参数测试作为集成电路芯片时域响应的检测手段,已经成为集成电路自动测试系统中不可缺少的一部分,越来越受到集成电路测试行业的重视。本文实现了一种对集成电路时域参数的测试仪器的研制,可以实现集成电路时域相关参数的工业化测量,具有很好的通用性。本文首先介绍集成电路测试发展状况以及集成电路测试中对时域参数测量的意义,然后分析了集成电路测试系统中,对于时域参数测量的特殊性,并根据几种通用的时域参数测试方法,选取了适当的测量方案,在此基础上,按照测量需求,构件并实现了测量的硬件电路。根据硬件电路实现的功能,设计了底层驱动函数,提供方便的硬件资源调用接口给用户和上层函数。为了方便用户对集成电路芯片进行测量,本文设计了用于工程测量的操作界面程序。最后,文章给出了测量数据报告,并对报告进行了分析,表明测量性能达到比较好的效果。此外,本文总结了在设计中遇到的一些问题和采取的解决方案,为进一步的研究提供了便利的条件。本文设计的集成电路时域参数测量模块,已被某集成电路芯片制造企业使用,使用效果表明测试稳定,效率高,通用性能好,成本低,适合国内集成电路生产企业采用,具有较高使用价值。