本论文是针对兰州重离子加速器冷却储存环(HIRFL-CSR)上的束流寿命展开的相关研究。文中主要从理论和实验两方面研究了电子冷却装置对于束流寿命影响的规律。在重离子环形加速器上电子冷却技术的应用,一方面可以抑制束内散射造成的影响,另一方面可以打破刘维定理的限制,通过压缩相空间,实现束流的累积。同时,电子和离子的复合会造成束流损失,降低束流寿命。另外,加速器管道中的残余气体与离子发生相互作用,也会导致束流的损失,影响束流寿命。残余气体与离子主要存在两种作用方式:散射和电荷交换。本文从现有的反应截面经验公式出发,对CSR上残余气体影响下的束流寿命进行了估算,并总结不同物理机制下束流寿命的相关结论。CSR上电子冷却装置主要有两个应用,一个是应用在CSRm上用于束流的累积和加速,另一个是用于CSRe上进行内靶实验中。这两个应用都与束流寿命有着密切关系,较好的束流寿命有利于CSRm上完成束流累积,也有利于满足CSRe上实验亮度的要求。辐射俘获寿命来源于冷却段自由电子和离子的复合过程,是影响束流总寿命的重要因素;内靶模式寿命主要源是内靶原子对离子散射造成的束流损失。文中也对CSRm上几种常用的束流总寿命作出估算。电子冷却装置本身对离子束有重要影响。本文实验部分是基于CSRm上C6+和Ar15+两种束流,比较两种束流下束流寿命的测量结果,得出相关的结论。实验中,我们主要是改变电子束的参数,来探究束流储存寿命变化的趋势和规律。这种规律是电子冷却、电子离子复合两个过程综合作用下的结果,对此,我们对实验结果进行了合理的分析。最后,文章对电子冷却和束流寿命相关研究做出的展望。