光学低通滤波器(Optical Low Pass Filter),简称为OLPF,广泛应用于诸如数码相机、数字摄像机、监视系统等设备的CCD/CMOS部件的前部,起到消除或者减少莫尔条纹,提高图像质量作用。 本论文详细讲述了OLPF如何利用双折射晶体的分光性质来实现低通滤波的原理,介绍了从单片,两片到多片晶体组成的OLPF的滤波特性和设计上的考虑。 本论文对OLPF的频谱特性、色散特性、宽角度入射特性进行了详细的分析。多块双折射晶体通过适当的排列,可以在对主瓣影响不大的前提下,较大地抑制旁瓣,从而达到改善滤波效果的目的。在滤波要求比较高的情况下,可以通过选用不同的晶体材料来将色散的影响降至最低。模拟结果表明,由双折射晶体材料本身色散以及宽角度入射引起的OLPF最大偏差分别是象元尺寸的8.5%和理想分光偏移量25%(入射角范围达±14度),这一偏离还是可以满足大孔径成像光学系统的要求。 本论文介绍了OLPF光点测试仪的原理及系统构成。设计开发了具有高测量精度和大测量范围的测试仪系统。该系统可以准确、方便地测量多块晶体的厚度和光轴角度特性。本系统具有很好的兼容性,不但可以使用标准的显微镜物镜,也可以使用专门设计的显微数码适配器:软件功能除了基本的图像捕获、浏览等功能外,还实现了光点数目检测,长度检测和角度检测等高级功能。