双片级联微通道板(Microchannel Plate, MCP)结构具有高增益和暗电流小等明显优点,已逐渐成为有高增益要求的光电器件的核心结构,因此对其性能的测试有十分重要的应用价值。本文开展了对双片级联MCP的性能测试方法研究以及微通道板光电倍增管(Microchannel Plate-Photomultiplier Tube, MCP-PMT)静态性能测试系统的研制。本文首先阐述了单片MCP和双片级联MCP的工作原理和评价参数,在已有MCP噪声测试系统的基础上,提出了双片级联MCP的性能测试方案,设计了专用测试夹具,实现了增益测试。利用双片级联MCP和荧光屏组件的方法,将MCP输出电流转化为光信号,采用光电倍增管作为光探测器件,实现了输出信噪比的测试。针对多组双片级联MCP,在不同的夹角、电压和灯丝电流的情况下,设计了多组对比实验,测试了双片级联MCP的夹角、两端电压和输入电流密度对性能参数的影响,并对测试数据进行了分析,给出了实验结果。其次,分析了大面积MCP-PMT的工作原理,研究了其中的双片级联MCP结构,设计了MCP-PMT静态性能测试系统,对测试系统的光源、积分球、暗箱、高压电源系统和光电流测试仪等硬件进行了设计、加工和调试,利用编程工具VS2005完成了数据的采集和处理软件的设计,最后对测试系统进行了联调,利用研制的测试系统对国产的8英寸MCP-PMT进行了性能测试,给出了测试结果,结果表明测试系统可以很好地对MCP-PMT进行性能评价。