退火对渗流磁性纳米结构输运性质的影响

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最近发现NiFe-SiO<,2>渗流磁性颗粒膜上存在巨霍尔效应.对霍尔效应产生的机理目前还不很清楚,初步的研究表明存在着比经典的渗流影响更大的因素.该文从从纳米结构方面探索巨霍尔效应的可能起因.研究人员对一些NiFe-SiO<,2>渗流磁性颗粒膜进行退火处理,研究了电阻率、磁致电阻率、霍尔电阻率随退火条件的变化.结果发现电阻率和霍尔电阻率在520℃退火后下降了两个量级.伴随着近似-lnT的电阻温度依赖关系到金属行为的变化.另一方面,透射电子显微镜的研究表明电阻率霍尔电阻率的这种变化不是由于新的金属相的产生,而是与粒子大小和分布密切相关的.这些结果在目前的理论框架中还不能得到很好的解释.热电势的测量表明,不考虑载流子的符号,热电势S很小并且随温度变化不敏感.但是退火后,热电势和电阻率都恢复为正常金属行为,它们与温度的关系都变成线性关系.研究人员人为渗流导电网络中纳米颗粒的大的电荷7库仑阻塞能可能在这里起了作用.热稳定性的研究表明,在300℃以下及在230℃下退火52小时以上,电阻率和霍尔电阻率都是相对稳定的.对基于巨霍尔效应的线性磁场探测器在高温下应用的可能性作了讨论.
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