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随着系统芯片(SOC,System on Chip)集成度提高、功能复杂度增加,低功耗SOC设计成为了主流的设计理念。多电压域(MVI,Multiple Voltage Island)的SOC通过动态电压调整技术(DVS,Dynamic Voltage Scaling)实现大幅度的降低系统动态功耗。然而,MVI的SOC测试挑战成为了限制其发展的瓶颈问题。在保证测试故障覆盖率的前提下,如何高效完成系统级MVI的SOC测试成为了研究的热点和难点问题。MVI的SOC测试具有测试任务多、任务间约束条件多等特点。本文从MVI的SOC最小测试单元的测试时间优化、测试资源分配优化、测试任务间约束这三个方面着手来提高MVI的SOC测试效率、降低其测试时间成本。MVI的SOC最小测试单元是可复用IP核。为降低MVI的SOC最小测试单元的测试时间,本文分析研究了IP核扫描链平衡设计技术并提出了基于动态参考值和平均值的二次分配算法。国际标准测试集ITC’02 SOC上的对比实验结果表明,本文提出的启发式方法能很好解决扫描链平衡设计问题,有效缩短MVI的SOC最小测试单元的测试时间。测试资源分配优化也是提高MVI的SOC测试效率的有效途径。优秀的测试资源分配策略能高效合理的指定IP核与测试资源间所属关系来提高测试并行性。本文提出了差分进化算法(DE,Differential Evolution Algorithm)来解决这一资源优化问题。概率操作和混合变异策略等改进能保证DE算法的高效性。对比实验表明:DE算法在解决测试资源优化问题时的有效性和高效性。MVI的SOC测试调度在最小测试单元的测试时间优化、测试资源优化的基础上,进一步考虑测试任务间的约束条件从而确定各测试任务的测试位置及其顺序。本文提出了启发式算法、基于DE的迭代式算法分别来解决测试任务间约束问题。对比实验表明:基于DE的迭代式算法优化效果更佳。在不增加硬件开销的情况下,MVI的SOC测试调度策略能有效缩短其系统测试时间。