平面近场测量是相控阵天线的重要测试方法,它主要完成相控阵天线的近场补相、近场测试、近场诊断等功能。平面近场测量系统一般由扫描架、微波测试仪表、伺服控制设备、近场测试软件、测试探头等组成。影响天线平面近场测量精度的误差因素涉及多方面,自Newell提出天线平面近场测量18项误差源后,按其产生的原因可分为四个方面:理论计算式及数值计算所产生的误差、测试仪表及设备产生的误差、环境产生的误差以及探头天线所产生的误差。本文从工程的角度出发,分析对平面近场测量精度影响最大的几项误差源,并给出了工程上可行的解决办法。测试探头是近场测量的重要组成部分。无论是近场还是源场测试,都要使它对待测天线场的影响尽可能小,这就对探头的设计提出了高要求。本文重点讨论了探头设计中的平衡馈电和阻抗匹配问题,阐述了工程应用上应注意的方面和部分可行的方法。针对某型相控阵天线的批产需求,研究了相控阵天线近场的发射配相、差波瓣测试与零深计算以及大采样间距等问题,给出了解决这些问题的工程上切实可行的方法。