论文部分内容阅读
随着微电子工业和先进制造技术的发展,设备的结构越来越复杂,成本也越来越高。提高设备利用率对生产效率的改进方面起着至关重要的作用,是降低生产成本的关键因素。本文主要研究的对象是半导体封装测试工厂的设备故障数据。通过对历史故障数据的分析,实现对设备故障的预测,从而对设备维修维护策略提供参考,最终实现提高设备利用率的目标。本文研究的故障数据取自不同的串联机械系统,而不同的机械系统是由几个,甚至十几个不同的设备组成的。针对这样复杂的数据,本文主要利用时间序列的方法建立预测模型。把故障数据看成时间序