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随着嵌入式系统的高速发展,嵌入式SoC芯片应用范围越来越广泛,而SoC芯片大多包含有外部存储器接口模块(EMI,External Memory Interface),本文讨论的基于ARM7TDMI的“Garfield”系统芯片中的EMI支持多种不同类型的存储器,包括SRAM、ROM、Nor Flash、SDRAM及Nand Flash,对其进行充分的功能验证,保证EMI一次性流片成功尤为重要。目前多数的IC设计项目中,功能验证一直以来都是设计中最难克服和最具有挑战性的课题之一。功能验证的难点主要体现在以下几个方面:测试向量的快速生成,验证平台的可重用性,验证质量的评估和回归测试。本文的研究内容是Garfield系统芯片设计的一部分,着重讨论了一款SoC芯片Garfield中EMI的功能及其功能验证,本论文的主要工作是对Garfield中EMI的RTL级功能验证平台的设计实现。为了保证EMI的总体设计和验证要求,在对EMI验证过程中吸纳和综合使用了两种技术:一是可重用的验证环境开发技术,它帮助验证工程师根据验证计划中的功能点产生约束,自动生成测试矢量,提高验证工作效率;二是基于覆盖率驱动的验证技术,它的作用是完善功能验证工作的验证计划,帮助验证工程师发现待验证模块中的设计错误,通过多次回归测试,不断的基于覆盖率驱动加强约束开发确定性的测试场景,最后达到了指定的覆盖率。本文主要的研究工作如下:1.基于Garfield体系结构,讨论EMI在Garfield系统芯片中的地位,作用,以及该设计的结构,全面掌握EMI的设计原理和实现方案,及其功能性能特点,并根据EMI的功能规格定义制定了详细验证计划。2.确定以Specman为验证平台,并以Specman平台支持的验证语言——E语言,设计实现了EMI RTL级基于覆盖率驱动的验证环境,该环境具有高度的可扩展性和可重用性,并已成功应用于Garfield中EMI的各功能的验证,最后并对EMI验证结果进行分析和评估。3.在基于ARM的ADS调试环境(IDE)中对实际芯片中的EMI进行测试,开发其驱动和测试程序,其产生的测试矢量和EMI RTL级的验证矢量高度统一,且EMI的测试比其RTL级模块级的验证更专注于EMI在系统级与其他模块的协调仿真,如PMU,DMAC等模块。