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天线系数是辐射类的EMI测试中主要不确定度来源之一,如果天线没有被准确地校准,会影响到后续所有的测试过程。但是,要准确地校准天线通常需要使用高质量的标准测试场地,而场地质量又需要已知天线系数的天线来验证,这样在场地质量验证和天线校准之间就存在量值循环问题。对于天线校准的方法,至今仍然有一些问题尚未很好地解决,譬如未考虑近场耦合问题以及平衡不平衡转换器对天线系数测量结果的影响等等。尤其是在低频(30~180MHz)的情况下近场耦合的影响相当明显,给测量带来很大的误差,该影响也被ANSI C63.5明确