吸烟是全球致人死亡的主要原因,每年可导致600万人死亡。2012年“中国吸烟健康危害报告”显示,中国有3.5亿吸烟者,其中包括1400万青少年吸烟者,并且每年会有100多万人因为吸烟相关疾病而死亡。一项全国性调查显示,青少年吸烟率是调查中所有年龄组中最高的。此外,至少有20%具有较高尼古丁依赖性的年轻吸烟者成为经常吸烟者。之前对青少年吸烟者的研究报告说,尼古丁可能影响青少年的大脑成熟和神经系统发育。虽然大多数青少年吸烟者都意识到吸烟的负面后果,并表达了戒烟的强烈愿望,但绝大多数戒烟尝试以复发告终。之前的研究发现,吸烟者在戒断状态下有尼古丁戒断症状,因为渴望增加,认知控制能力下降,这可能导致戒烟失败甚至复发。平均而言,成功戒烟一年以上的吸烟者比例不会超过5%。短期戒断状态下渴望和认知控制的变化可以提高我们对青少年吸烟的理解。认知障碍与尼古丁戒断有关,这可能是戒烟复发的重要原因。虽然先前的研究证实了青少年吸烟者12小时戒断引起的大脑功能变化。然而,关于青少年吸烟者12小时戒烟引起的脑电生理变化的研究很少。在先前研究中,研究人员发现,与非吸烟者相比,青少年吸烟者在Go/NoGo任务期间有更多NoGo反应错误数,NoGo-P300振幅减少和P300潜伏期延长,这为青少年吸烟者的抑制性控制障碍提供了直接的电生理学证据。与以前的研究不同,本研究主要探讨了青少年吸烟者12小时戒烟所引起的抑制控制能力和电生理方面的变化。在目前的研究中,通过Go/NoGo任务测量青少年吸烟者的抑制性认知控制能力。在这项任务中,参与者对“Go”刺激迅速做出反应而没有回应“NoGo”刺激,他们对“NoGo”刺激的反应越多,他们的抑制性认知控制缺陷就越严重。事件相关电位(Eventrelated potential,ERP)用于研究青少年吸烟者在吸烟满足和12小时戒断条件下NoGoN200和NoGo-P300振幅和潜伏期的变化。两种主要的ERP组成部分N200,P300,已被证明与Go/NoGo任务中的吸烟者抑制控制有关。其中,P300是反应发生后约300毫秒的正波,这与实际的抑制过程有关。N200是反应发生后约200毫秒的负波,这与抑制过程早期的冲突检测有关。本实验发现在Go/NoGo任务期间青少年吸烟者的事件相关电位在戒断12小时后会发生变化,具体表现为12小时戒断后N200潜伏期延长并且N200潜伏期与行为学数据具有显著相关关系。这种变化可能与青少年吸烟者的抑制控制障碍有关。目前的研究结果可能会提高对青少年吸烟者短期戒断效果的理解。我们认为N200的潜伏期可能与青少年吸烟者戒烟时期的低效抑制控制有关。我们的研究结果可能为青少年吸烟者尼古丁戒断的神经机制提供新的见解。