本论文的研究工作从高聚物样品的统计电子噪声分辨率的各种影响因素出发，对样品的制备，电镜观察状态，底片及成像条件等各个方面进行了系统的分析和改进，克服了柔性链高分子耐辐照性能差的限制，首次成功地得到了聚乙烯这种极不耐辐照损伤的柔性链聚合物晶体的高分辨结构像，为高分辨电子显微学在柔性链聚合物中的应用提供了新的信息和依据，拓宽了高分辨电子显微学的应用领域，也为高分子的凝聚态结构和结晶行为研究提供了新的信息。本论研究得到了支化聚乙烯的熔体单晶，而且获得了不同温度下熔体单晶随温度变化的形态的改变。随着结晶温度的改变，茂金属催化短链丁基支化聚乙烯的熔体单晶的形态发生了一系列的变化，在结晶温度114℃时，单晶的形态为截顶菱形，可以明显的观察到直的{110}生长面，在118℃时的透镜形单晶中{110}生长面很小而不能被观察到，仅能观察到弧形化的{200}生长面。在所有的结晶温度下熔体单晶的形态是沿着b轴不对称生长的。单晶形态的不对称是由于折叠链的倾斜导致单晶内部结构的不对称而引起的。 在相同的结晶温度下形成的同一单晶的厚度是不均一的，这主要是由于分子链的倾斜使得两个侧向的{200}生长面内的折叠链的表面自由能不同，从而分子链的折叠长度不同而导致单晶出现两种不同的厚度。在低结晶温度下形成的弯曲形的丁基支化聚乙烯其弯曲的径向生长上都是沿着b轴方向生长的，弯曲作用主要是由于两个{200}区域的生长速率不同引起的。