随着电子技术的发展,电子设备越来越多地实现了智能化,其关键是采用了微处理器电路。如何对带有微处理器的数字电路进行测试和故障诊断已成为智能电子设备生产和维修中必须解决的一个难题。因此,研究带微处理器电路的故障测试,建立有效的测试方法变得十分有意义。论文以智能化设备中的重要部分(带微处理器电路)为研究对象,从带微处理器电路的特点和测试需求研究出发,较为系统地研究了带微处理器电路测试系统的设计、主要故障类型、测试算法等问题。论文完成的主要工作和成果如下:(1)给出了一种带处理器数字电路测试系统的设计方案。并对系统的功能组成、主要性能指标、工作原理以及各部分的作用进行了讨论。(2)针对带微处理器电路具有总线结构,利用常规仪器仪表测试总线电路存在测试速度慢、定位故障困难的问题,提出了一种基于JTAG电路的总线测试与故障诊断的方法,试验结果表明,这种方法具有电路设计简单,测试速度快的特点。(3)针对带微处理器电路存在大容量存储器件的问题。论文对ROM、RAM等的测试诊断问题进行了重点研究。研究内容主要包括存储器的故障类型、只读存储器和随机存储器的测试算法,以及采用总线仿真技术实现对ROM、RAM测试的电路实现方法,并进行了初步实验研究。(4)针对目前超大规模集成电路和存储器采用内建自测试技术的实际,论文研究了内建自测试技术的原理与测试方法。