【摘 要】
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该文通过X射线衍射(XRD)对合成材料的晶相进行了分析;用X光电子能谱(XPS)对表面的元素和价态进行了分析;用扫描电子显微镜(SEM)观察样品表面和断面的显微结构.
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该文通过X射线衍射(XRD)对合成材料的晶相进行了分析;用X光电子能谱(XPS)对表面的元素和价态进行了分析;用扫描电子显微镜(SEM)观察样品表面和断面的显微结构.
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