超磁致伸缩材料(Gaint Magnetostrictive Material)是自20世纪70年代迅速发展起来的新型功能材料,目前已被视为21世纪提高国家高科技综合竞争力的战略性功能材料,由于它在室温下具有机械能—电能转换率高、能量密度大、响应速度快、可靠性好、驱动方式简单等优点,引发了传统电子信息系统、传感系统、振动系统等的革命性变化。因此,获得精确的GMM的性能参数,特别是磁伸参数,对材料的开发应用具有重要意义。本文主要研究GMM的磁致伸缩系数这一性能参数的测量。目前典型的GMM为Terfenol-D,它的磁致伸缩系数一般微米级,因此它的测量属于微位移测量范围。现代工业技术的发展,对微位移测量的精度和方式提出了更多、更高的要求,与此同时随着光纤传感技术的发展,光纤传感器以其无以能比的优势应用到各领域。本文是在光纤微位移传感器的发展基础上设计了一种光强调制型光纤微位移传感器,给出了传感器的总体设计方案,并就传感器中的探头、调制光源与驱动,光电转换与接收、微弱信号处理等模块分别作了介绍,最后给出了传感器的输出特性曲线,实验发现,光纤探头与被测面距离370μm-470μm时线性度最好,并且把该区域作为文中测量磁致伸缩系数的区域。本文利用研制的光纤微位移传感器结合微控制器和数据处理等模块设计了一套磁致伸缩系数测量仪。仪器以AT89C52为核心,采用AD574作为数据采集单元,GMM的磁致伸缩系数随磁场的变化量由文中设计的磁致伸缩系数测量机械机构产生,通过微位移传感器获得被测样品的磁致伸缩系数,并将结果在LCD上显示。主机软件系统采用C语言编写,包含数据采集、数据显示、数据处理等相关子程序。给出了被测样品随着外加磁场的变化的磁致伸缩系数的曲线,实验结果表明,仪器在磁致伸缩参数的测量中有着良好的表现,达到了预期的目标。