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综合测试仪表中的LTE-A MAC层的设计和实现

来源 :北京邮电大学 | 被引量 : 4次 | 上传用户：xiaodixi000

【作 者】

：

吕高源 

【出 处】

：

北京邮电大学

【发表日期】

：

2015年01期

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