本文介绍了上海天文台低温低噪声放大器噪声测试系统的研制情况。该测试系统在现有的仪器设备基础上，利用负载温度可变法和低温衰减器法实现了低温低噪声放大器噪声参数的精确测量和快速测量。负载温度可变法实现了低噪声放大器噪声温度的精确测量，测试不确定度约为1K；低温衰减器法实现了低噪声放大器噪声温度的快速测量，测试不确定度低于4K。实验表明，两种测试方法至少可以在10MHz～10GHz频率范围内达到上述精度。目前，上海天文台已经用该测试系统验收了5台S波段和5台X波段进口低噪声放大器。上海天文台即将用该测试系统开发新的低噪声放大器。 本文依据低噪声放大器的线性特性，介绍了常温环境和低温环境下放大器噪声测试的差别，并给出了在低温环境下低噪声放大器噪声参数测试的解决方案。本文还介绍了基于该解决方案的硬件系统和软件系统。最后，本文对测试系统的测试结果进行了描述，分析了系统存在的误差，并对测试系统作出评估。