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本论文在探讨CCD的基本结构、工作原理、信号处理及其在光电传感器中的应用的基础上，对光电检测技术，特别是基于线阵CCD的特征标志光电检测技术进行了较为广泛和深入的理论研究，提出了自动增益、差动对比度提升、浮动阈值、敏感点可调等处理方法，并设计了前置放大滤波电路、数控自动增益放大电路和浮动阈值电路。在分析比较现有印刷等特征标志检测方法优缺点，提出了线阵CCD检测差值算法。重点探讨了特征边/线标志检测CCD光电传感器样机的研制，分别提出了用C8051F023高速单片机和FPGA器件两种方案，在比较两种方案优缺点的基础上，选用C8051F023单片机作为核心器件，研制出了具有可与微机通讯、敏感点可调等功能丰富的传感器样机，并通过大量的实验验证了该传感器样机的功能，并根据大量的实验数据绘出其工作波形及其它参数。